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日本回路设计(NF)

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LCR测试仪

  • LCR测试仪
  • ZM2354
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产品详细介绍

日本回路设计 NF    LCR测试仪  ZM2354 

特点:

1.不需要复杂的操作,只要连接被测的样品即可!

2.自动地设定LCR等的参数选择、等效电路选择、以及测试量程。
3.A
显示器用于显示LCRZ的测量值

4.B显示器用于显示QDESRGX、θ的测量值(也显示V·I状态监视、设定参数)

5.每按一次,就选择一次测量速度设定为SLOW(慢)时,可减少显示的离散程度

6.每按一次,就切换一次测量频率(若要设定任意频率,请使用09数字键/修正键)

7.精确度高   基本精确度为0.1%、分辨率为4-1/2位数

8.测量的基本精确度为0.1%,显示的分辨率为4-1/2位数字(19999),DQ的最高分辨率为0.0001,θ的分辨率为0.01

9.测量频率范围宽阔   最高200kHz

10.40Hz200kHz的宽阔的频率范围内,可用2位数字或3位数字的分辨率来设定频率。因为可用实际电路上的频率来进行测量,所以提高了测量值的可信赖程度。

11.高速测量   最快25ms

12.测量信号电平范围宽广   最大5Vrms

13.10mVrms5Vrms的宽广范围内,可用1mV10mV的分辨率来设定信号电平,所以非常便于14.测量对信号电平有依存性的元件(半导体)等。

15.内置用于直流(DC)偏置的电源 最大2.5V  内置0mV2.5V的用于直流(DC)偏置的电源(外置电源可达0V±35V)。可以测量诸如电解电容器之类的极性电子元件和半导体的PN结电容。

 

装备自动设定功能,即使是初次使用的用户,也可轻松简便地操作。启动时自动设置为AUTO状态,本仪器会自动地设定LCR等的参数选择、等效电路选择、以及测试量程。 不需要进行复杂的设定,只要把被测样品连接到仪器上,就可以简单地得到高精度的测量结果。